測試針 ，用於測試PCBA的一種探針 。

表麵鍍金 ，內部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧 。

目前國外比較有名的生產廠家有 ：ECT ，INGUN， QA ,IDI 、Semiprobe探針的材質 ：W ，ReW, A+ 　　1.目前主要采用的材質為W ，ReW,彈性一般 ，容易偏移 ，粘金屑 ，需要多次的清洗 ，磨損損針長 ，壽命一般 。

2. A+材質的免清針 ，這種材質彈性較好 ，測試中不容易偏移 ，並且不粘金屑 ，免清洗 ，因此壽命較長 。 　　探針分類 　　探針根據電子測試用途可分為 ：

A 、光電路板測試探針 ：未安裝元器件前的電路板測試和隻開路 、短路檢測探針 ，國內大部分的探針產品均可替代進口產品 ；

B 、在線測試探針 ：PCB線路板安裝元器件後的檢測探針 ；高端產品的核心技術還是掌握在國外公司手中 ，國內部分探針產品已研發成功 ，可替代進口探針產品 ；

C 、微電子測試探針 ：即晶圓測試或芯片IC檢測探針 ，核心技術還是掌握在國外公司手中 ，國內生產廠商積極參與研發 ，但隻有一小部分成功生產 。

探針主要類型 ：

1、懸臂探針和垂直探針 。

2 、懸臂探針 ：劈刀型（Blade Type）

3 、環氧樹脂型（Epoxy Type）

4 、垂直探針 ：垂直型（Vertical Type）

5 、ICT探針　（ICT series Probes)

1 、一般直徑在2.54mm-1.27mm之間 ，有業內的標準稱100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑隻有0.19mm,主要用於在線電路測試和功能測試．也稱ICT測試和FCT測試．也是目前應用較多的一種探針．

2.界麵探針(Interface Probes) 非標準的探針 ，一般是為少數做大型測試機台的客戶定做的 ，例如泰瑞達（Teradyne)和安捷倫（Agilent)．用於測試機台與測試夾具的接觸點和麵．

3.微型探針（MicroSeries Probes) 兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm．

4.開關探針（Switch Probes) 開關探針單獨一支探針有兩路電流．

5.高頻探針（Coaxial Probes) 用於測試高頻信號 ，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的和500MHz不帶屏蔽圈的．

6.旋轉探針（Rotator Probes) 彈力一般不高 ，因為其穿透性本來就很強 ，一般用於OSP處理過的PCBA測試．

7.高電流探針（High Current Probes) 探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．最大的測試電流可達39amps.

8.半導體探針 (Semiconductor Probes) 直徑一般在0.50mm-1.27mm之間．帶寬大於10GHz,50Ω characteristic

9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts) 一般用於優化接觸效果 ，穩定性好和壽命長．除以上類型外還有溫度探針 ，Kelvin探針等 ，比較少用．